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繞阻法溫升結(jié)果偏高
2021-12-10
在安規(guī)測試中，我們一般采用熱電偶法來獲取待測設(shè)備內(nèi)部各個點的溫升情況。但是例如馬達線圈轉(zhuǎn)子由于其正常工作情況下運動的特性以及定子中表面某個點的溫升并不能更好的反映其整體溫升情況，因此，對與上述情形，我們可采取測量試驗前后電阻來間接得出其溫升值，即繞組法。在家用電器安全標(biāo)準(zhǔn)IEC 60335-1中，對馬達線圈的溫升，要求必須用繞組法來測量。為使廣大客戶更加了解繞組測試溫升方法，摩爾實驗室（MORLAB）特撰此文以做簡要介紹。
繞組法測溫升的原理是：銅、鋁等金屬，其電阻隨溫度的變化會呈現(xiàn)某一特定的規(guī)律。
繞組溫升由下式計算求得：△t =(R2-R1)/R1（k+t_1）-(t_2-t_1)
△t——繞組溫升;
R1——試驗開始時電阻;
R2——試驗結(jié)束時電阻；
k——對銅繞組，等于234.5；對于鋁繞組，等于225；
t_1——試驗開始時的室溫；
t_2——試驗結(jié)束時的室溫；
在上述公式中各個值的測試過程中，試驗開始時繞組應(yīng)處于室溫。試驗結(jié)束時零秒電阻的獲取是整個繞組法測溫升的關(guān)鍵之處，由于馬達線圈在正常工作情況下是運動的部件，要想直接在斷電的一瞬間測量其電阻幾乎是不可能實現(xiàn)的。并且在測試電路中存在電容和電感，在正常工作情況下會產(chǎn)生振蕩信號，會極大干擾測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。所以我們一般會采用作圖取點法利用衰減規(guī)律去推算零秒電阻，如下圖所示。
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